仪器名称：场发射扫描电子显微镜    

仪器型号：JSM-7800F    

生产厂商：日本电子    

主要特点: 超高的分辨率0.8 nm (15 kV) and 1.2 nm (1 kV)

 高速精确分析能力  

 稳定的大束流  

 从磁性样品到非导体样品使用范围广泛    

技术指标:分辨率：0.8nm (15 kV)，1.2nm (1 kV)

放大倍数：25 to 1,000,000×

加速电压：0.01 to 30kV

束流强度：200 nA (15 kV)

样品台：5轴马达驱动    

探头类型：LED、UED、BED、STEM、EDS（型号为80 mm² X-Max^N Silicon Drift Detector）、EBSD（型号为NordlysMax²）    

主要功能: 金属、非金属、生物等各种样品的纳米尺度的形貌分析；微区成分分析；微区取向、微观织构分析；晶体结构分析；物相分析等。